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产品简介:芯片模组低温测试箱是一种专门用于对芯片模组进行低温环境测试的设备。它提供了控制温度和湿度的功能,使得芯片模组可以在恶劣的低温条件下进行测试和评估。产品用途:芯片模组低温测试箱可以为芯片的可靠...
芯片模组在封测阶段需要做各种可靠性测试,其中一项就是低温测试,例如EIAJ ED-4701/200:2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法(寿命试验 II)和JESD22-A119A 低温存储寿命...
芯片模组低温测试箱用于产品的低温测试,下面是“环仪仪器”整理出的一些设计到芯片模组低温测试的标准和要求,供各位参考。试验名称:芯片模组做低温测试试验设备:环仪仪器 低温测试箱试验条件:1. EIAJ ...