光电子器件包括光探测器、激光器等，应用在非常广泛的领域。由于不同器件应用的环境温度范围不同，因而对电器件在不同温度下的各种光电参数有不同的要求。所以在器件的制备和检测过程中，就需要在光电器件高低温操作生命期试验箱的工作范围内测定其各项光电参数。
技术参数：
技术特点：
1.光电器件高低温操作生命期试验箱简单实用，同时测试精确度非常高，用途广泛，除了用于光电器件，也可以用于半导体材料的光学参数在液氮以上温度的测试。
2.另外，在特殊高低温条件下对光电器件进行测试，解决了空气环境中过低温度下光窗口结霜等问题，并且高低温可以在同一装置中测试，高低温测试结果之间具有相同的测试条件，所以具有可比性，减小了测试的复杂程度。
3.可选择以液氮作为冷媒降温，并通过控制电压控制加热部件升温，实现室温-接近80K-室温的温度反复循环，满足光电器件温度循环的需求。
4.可以根据实际要求设计内胆低导热层的厚度，以控制降温速率从而控制降温时间；通过电压控制加热部件的电热元件以调节升温速率，控制升温时间，从而能够模拟实际使用状态，按实际应用要求进行模拟试验。
5.升、降温变化速率可以通过测温元件实时监测。
如有光电器件高低温操作生命期试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
