很多光电器件必须长时间工作在高低温等各种恶劣环境下，高低温失效问题变得越来越严重。针对电器件的高低温失效问题，研究低温环境下器件的电特性规律和各种参数随温度变化规律。因此，需要使用光电器件高低温特性试验箱对其进行实验研究。
光电器件高低温特性试验箱的试验条件：
试验设备：环仪仪器 光电产品高低温生命期实验箱
测试条件：
高低温实验设计参考标准：美国军事标准 MIL-STD-750 方法 1051、国家军事标准GJB-128A-97 方法 1051 和 JESD22-A104-C。
（1）器件常温下初测，放入试验箱中从室温开始升温，恒温 15min 后接着降温，高低温不断循环，循环次数 20 次以上，可选取温度点如 100℃、80℃、60℃、40℃、25℃、0℃、-10℃、-20℃、-30℃、-40℃、-50℃、-60℃，分别测试得到参数随温度变化规律。
（2）器件常温下初测，将器件放置试验箱中，从室温开始升温，恒温 15min 后降温直至-60℃的低温环境，温度点跟上面测试相同，每隔 10min 测试器件的 I-V 特性，达到失效判据为止。
（3）选取上述的温度点，分别对器件施加直流电应力，每隔一段时间测试器件的I-V 特性，达到失效判据为止。
高低温测试流程图：
如对光电器件高低温特性试验有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
