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芯片模组低温测试箱的试验要求

时间:2023-06-30 13:51:22 作者:环仪小编 点击:

芯片模组低温测试箱用于产品的低温测试,下面是“环仪仪器”整理出的一些设计到芯片模组低温测试的标准和要求,供各位参考。

试验名称:芯片模组做低温测试

试验设备:环仪仪器 低温测试箱

芯片模组低温测试箱的试验要求(图1)

试验条件:

1. EIAJ ED-4701/200:2001 半导体器件的环境和耐久性试验方法(寿命试验 II)

a. 将样品存放在预先设定在指定温度(低温)的低温测试箱中,保存指定的时间。
b. 除非另有规定,储存温度应为最低额定储存温度。
c. 储存温度允许误差在-25℃以下时为±5℃,在-25℃以上下限为+3℃、-5℃。
d. 测试时间应为1000小时。


2. JESD22-A119A 低温存储寿命标准

a. 在-40℃、-55℃、-65℃三个低温中选择合适产品测试的温度。
b. 测试时间应为1000小时。
c. 除非另有规定,中期和最终电气测试测量应在器件从移出后 96 小时内完成。

标签: 低温测试箱

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