适用行业：IC半导体、连接器、线路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏组件等
产品用途：HAST试验箱试验的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间，用于调查分析何时出现电子元器件，和机械零件的摩耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
产品说明：
高度加速寿命试验机的目的是提高环境应力(如：温度)与工作应力(施加给产品的电压、负荷等)，加 快试验过程，缩短产品或系统的寿命试验时间。
用于调查分析何时出现电子元器件和机械零件的磨耗和使用寿命的问题，使用寿命的故障分布函数呈什么样的形状，以及分析失效率上升的原因所进行的试验。
随着半导体可靠性的提高，目前大多半导体器件能承受长期的THB试验而不会产生失效，因此用来确定成品质量的测试时间也相应增加了许多。为了提高试验效率、减少试验时间，采用了压力蒸煮锅试验方法。
压力蒸煮锅试验方法主要分成两种类型：即PCT和USPCT(HAST) 现在压力蒸煮锅试验作为湿热加速试验被IEC(国际电工委员会)所标准化。
技术参数：
饱和蒸汽寿命试验机规 格 | HY-PCT-250 | HY-PCT-350 | HY-PCT-450 | HY-PCT-650 |
内箱尺寸(Inside dimensions (W ‧H‧D) cm) | ￠250×300 | ￠350×400 | ￠450×500 | ￠650×600 |
外箱尺(Outsidedimensions (W‧H‧D) cm) | 500×450×650 | 600×550×750 | 700×650×850 | 700×650×850 |
内箱材料(Internal m*terial) | 不锈钢#316 | |||
外箱材料(External m*terial) | 喷塑 | |||
温度范(Temperaturerange) | +100℃～132℃(可选购达147℃) | |||
结构 (Structure) | 标准压力容器 | |||
加湿系统(Humidificationsystem) | 电热管 | |||
加湿给水系统(Humidification water supply) | 手动加水 | |||
压力范围 | 0～2kg/c㎡(可选购达3kg/c㎡) | |||
电压(V) | 220V~240V 50/60HZ单相 | |||
