高低温气流循环冲击机能提供-80℃~+225℃的温度冲击范围，以及高达18 SCFM的气流速度。设备可提供手动操作与程序操作两种操作模式，可用于从传统半导体测试、失效分析和器件特性分析，到PCB和电子组件测试。
主要系统组成：
高低温气流循环冲击机主要包括机体和连接臂，连接臂自由端连接有加热头，机体中设有电源、冷却系统、干燥系统、除霜装置、气路装置、控制系统等，加热头中设有加热系统，连接臂或加热头中连接升降系统，升降系统可以是机械臂或者直线模组等，控制系统通过升降系统控制加热系统升降。
技术参数：
工作原理：
高低温气流循环冲击机输出汽流罩将被测试品罩住，形成一个较密闭空间的测试腔，试验机输出的高温或低温气流，使被测试品表面温度发生剧烈变化，从而完成相应的高低温冲击试验。
测试温度控制原理：
热流罩温度控制系统原理下图所示，被测器件置于测试设备上，热流罩调整至合适的角度，完全罩住被测器件。
热流罩系统开始工作，热流罩系统加热或降温至合适的温度，高至热流罩腔体内进行热交换，同时温控探头进行温度监控。一定时间后腔体内温度到达设定温度，达到热平。通过对温度的精确监控并保持器件的设定壳温，提供了所温度，通过测试被测器件夹具，通电测试器件应高、低温的性能。
如有高低温气流循环冲击机选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
