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MIL-STD-2164标准快速温度变化试验箱

时间:2023-04-20 09:13:50 作者:环仪小编 点击:

美军标MIL-STD-2164 电子设备环境应力筛选方法,是提高电子产品可靠性的必要手段,在该试验方法中,主要用到的试验设备为“快速温度变化试验箱”,下面,我们来了解一下该试验方法。


MIL-STD-2164中的电子产品环境应力筛选方法:


1.适用样品:

研制阶段和批生产初期的电子产品(可以是印制板组件、单元或整机,但不适于元器件);在批量生产中、后期可据产品批量大小及质量稳定情况采用抽样或简化筛选方案。


2.试验设备:快速温度变化试验箱

3.设备型号:HYQT系列

4.设备商:环仪仪器


MIL-STD-2164标准快速温度变化试验箱(图1)


5.试验要求:


a.高低温度限取产品的工作极限温度,对不 通 电状态筛选,则可取产品的非工作极限温度(贮存温度)。


b.高低温保持时间由产品典型试验确定,为产品典型测量点均值达到高(或低)温极限的时间与箱内空气测量点均值达到高(或低)温极限值的时间之差。


c.变温率应大于5℃/min


d.循环次数为12个循环(相应于循环周期3小时20分),或10个循环(相当于循环周期4小时),使两种情况下的温循筛选总时间均为40小时。


e.对无故障检验,则为40~ 80小时,相应于循环次数10~ 20或12~ 24。


标签: 快速温度变化试验箱

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