手机温度冲击试验标准

手机温度冲击试验是一种测试手机在温度快速变化条件下的能力的试验。在现实使用场景中，手机可能会从低温环境突然进入高温环境，例如从室外进入空调房间，或者从冰箱中取出后立即使用。这时，手机内部和外部的温度差异会导致机身的热胀冷缩，可能会对其造成影响，例如导致电池膨胀、触摸屏幕失灵、系统崩溃等问题。

一、试验标准：
YD/T 1539-2019 移动通信手持机可靠性技术要求和测试方法

二、试验设备：
冷热冲击试验箱（点击查看）

三、试验方法：
a)试验方法按GB/T2423.22中相关规定进行。
b)试验的温度-时间变化曲线如图1所示。
c)试验条件：测试条件取表3规定的温度上下限值，将低温试验箱和高温试验箱调到相应的温度。
为确保试验样品进入箱内后能很快地使箱内温度恢复到上述规定的温度，这两个试验箱都应有足够的控温能力。试验样品装上配套的电池、不包装、不开机放入低温箱内，在规定的储存温度下持续表3规定时间后，在3分钟内将试验样品移到高温箱内，在规定的储存温度下持续表3规定的时间，然后，再在3分钟内将样品转移至低温箱进行下一个循环。循环次数按照表3中规定选取。
d)试验结束后，进行功能、外观及装配检测。

特殊样品处理办法:对于翻盖/滑盖手机，应将一半样机合上翻盖（滑盖)，一半样机打开翻盖（滑盖);

四、试验结果：
手机应能工作正常。

附：表3

温度冲击试验可以模拟手机在真实场景下可能遭受的突然温度变化，帮助制造商评估手机在这种情况下的可靠性和性能表现，并采取相应的措施来提高其抗冲击能力。例如，改善散热设计，提高机身的散热能力，加强电池的保护措施，优化软件算法，提高系统在冲击后的稳定性等等。通过温度冲击试验，可以确保手机在温度变化环境下的可靠性和稳定性，提高用户的满意度和信任度。同时，该试验还有助于确保手机在温度变化环境下的安全性，防止因过热或过冷引发的潜在危险。