GB/T 36356-2018 是中国国家标准中关于功率半导体发光二极管芯片技术规范的标准。该标准为该领域的设计、制造和测试提供了规范和指导。
一、范围：
本标准规定了功率半导体发光二极管芯片产品(以下简称芯片)的技术要求、检验方法、检验规则、包装、运输和储存等。
本标准适用于功率半导体发光二极管芯片。
二、试验项目：
温度循环试验、循环湿热试验，恒加速度试验等。
三、试验设备：
温度冲击试验箱、离心机等。
四、设备厂商：
环仪仪器
五、试验程序（部分）：
1. 温度循环
温度循环试验按GB/T 2423.22-2012的规定进行，试验后符合3.5.3的规定。
2. 循环湿热
循环湿热试验按GB/T 2423.4-2008的规定进行，试验后符合3.5.4的规定。
3. 恒定加速度(适用于空腔封装器件)
恒定加速度试验按GB/T 2423.15-2008的规定进行，试验后符合3.5.5的规定。
GB/T 36356-2018 是在中国广泛应用于功率半导体发光二极管芯片的技术规范标准，有助于推动该领域的标准化和质量控制。
