PCIE SSD BIT测试柜

一、产品简介：
BIT（Burn-In Test）测试就是使用BIT软件对固态硬盘进行循环写入测试，再放入高温箱中静置。PCIE SSD BIT测试柜可以提供SSD的BIT测试所需要的高温老化环境，目的是为产品做潜在失效分析，因为在长时间读写和高温环境下，会加速芯片老化，可能导致故障提前出现。

二、技术参数：

三、产品特点：

单口最大速度4000MB/S，满载同时工作时最高速度1500MB/S。
共12台电脑，每台电脑同时测试8个PCIE NVME SSD。
可配合自动测试软件一键操作。
每个端口带保护座，座子坏了直接换保护板。
每个端子配12V转3.3V5A供电，提供充足的工作电流，并带短路过流过热保护。
插入下压式母座，不会用久后接触不良。
硅胶定位柱，轻松上下盘，用久后不会手痛，且上面盘效率更高。
有32、40、60、80各种长度的定位孔，适合测试各种长度的SSD。

四、BIT电气规格：
单口输出电压：DC 3.3±0.15V
单口输出最大电流：5A
电源输出接口：96PCS
单口最大速度：32GBPS(PCIE GEN3*4)4000MB/S
满载同时工作最大速度：16GBPS(PCIE GEN3*2)1500MB/S