高低温气流冲击仪广泛应用于半导体芯片、闪存（Flash/EMMC）、PCB电路板IC、光通讯设备（如收发器transceiver和SFP光模块的高低温测试）以及电子行业等领域，进行IC特性分析、高低温循环测试、温度冲击测试和失效分析等可靠性试验。
技术参数：
产品性能：
1.配有3 个 USB-Type A、1 个 USB-Type B、IEEE-488、LAN、RS-232、T 型、K 型和 RTD 温度传感器，以及自动启动测试和结束测试，用于自动温度循环热-冷-环境。
2.系统的触摸屏让操作员可以在用户测试台工作站上控制温度设置、升降温和循环。
3.单独的温控干燥空气吹扫，可在极冷温度下的长时间测试期间保持周围测试区域无霜运行。
4.两种用户控制模式——标准操作员和温度循环。
产品应用：
1.通过对半导体芯片和其他电子元件进行高低温测试，可以了解其在不同温度条件下的性能表现，帮助优化产品设计。
2.模拟产品在实际使用过程中可能遇到的极端温度变化，以评估其稳定性和可靠性。
3.快速改变温度，产生热胀冷缩效应，从而检测产品内部结构是否能够承受这种应力。
4.通过反复的高低温循环和温度冲击试验，可以加速产品的老化过程，暴露潜在的设计或制造缺陷，为改进提供依据。
如有高低温气流冲击仪的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
