高精度固态硬盘RDT测试柜测试展示

固态硬盘RDT测试柜的RDT测试主要目标是加速薄弱的NAND闪存块的故障，以便仅将最坚固的闪存保留在设备上，从而最大限度地提高可靠的性能和耐用性。 RDT帮助确保产品可以承受极端温度和恶劣的工作条件。

以下是“环仪仪器”某客户使用固态硬盘RDT测试柜正在进行高温老化试验的实拍图片。

此为客户把SSD被装入专门设计的固态硬盘RDT测试柜中，以便在高温（85℃）时进行热循环测试。

一些厂商为了节约成本，在生产SSD模块时，仅在室温（25℃）下进行测试，这不能严格筛选NAND或测试ECC的真实强度。放宽标准的结果是，由于强块和弱块的ECC性能差异不大，因此识别出的错误更少。这导致较弱的块被隐藏在ECC后面。

而固态硬盘RDT测试柜可以在85℃的极端温度范围内，对驱动器施加100％的热应力测试，当达到ECC校正阈值时，更多的弱块可以标记为“无法使用”或“无法校正”。在实际使用中，数据只会写在坚固的模块上，驱动器将能够承受现场的恶劣温度范围。这样可以最大程度地减少使用寿命缩短的故障，延长设备的使用寿命，并确保设备在整个使用寿命期间的可靠运行。

固态硬盘RDT测试柜的高温老化测试，不仅清除了有缺陷的组件，以防止早期寿命失效。 它还可以检测到以后的坏块，从而使SSD可以准确地对各种产品等级进行评级和分类，以满足特定于应用程序的要求。 该流程可确保所有SSD产品在其保证的使用寿命内提供出色且可靠的性能。此外，固态硬盘RDT测试柜由NAND闪存上的控制器直接执行。通过消除系统带宽限制，可以加快测试过程。