JESD22高加速应力试验箱用于评估非气密性封装IC器件（固态设备）在高温高湿条件下的运行可靠性，对芯片、半导体等其他元器件进行温湿度偏压（不偏压）高加速应力寿命老化试验。
相关实验标准：
GB/T2423.40、IEC60068-2-66、IEC 60749-4、IEC62506、JESD22-A102E、JESD22-A110E、JESD22-A118B、JEITA ED-4701/100A、AEC-Q100-Rev-H
技术参数：
试验要求说明：
1.JESD22-A101-C:稳态温度，湿度/偏压，寿命试验（温湿度偏压寿命）
试验条件包括：温度，相对湿度，和元件加偏压的时间
常用测试条件：85℃±2/85%R.H±5/7.12psia（49.1kpa）/8mA/1000h
2.JESD22-A110 ：HAST高加速温湿度应力试验
常用测试条件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h
3.JESD22-A118：温湿度无偏压高加速应力实验UHAST（无偏置电压未饱和高压蒸汽）
试验条件包括：温度，相对湿度，蒸汽压力和时间
常用测试条件：
130℃±2/85%R.H±5/33.3psia（230kpa）96h（264h）和110℃±2/85%R.H±5/17.7psia（122kpa）264h（96h）样品数25ea/lot，3lots
4. JESD22-A102-E：PCT高压蒸煮试验
5. JESD22-A102-D：PCT无偏压高压加速抗湿性试验
试验条件包括：温度，相对湿度，蒸汽压力和持续时间
常用测试条件：121℃±2/100%R.H/29.7psia（205kpa）/24h,48h,96h,168h,240h,336h
如有JESD22高加速应力试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
