JESD22-A103高温储存试验箱是半导体、光电、LED等领域必备的测试设备，用于测试和确定产品在高温加速老化试验过程仲产品的特性，高温储存试验箱属模拟气候环境试验设备之一，高温储存试验就是通过让产品进行高温的工作，来评价产品的老化性能以及使用寿命。
适用标准：JESD22-A103-E 高温贮存寿命
技术参数：
高温存储试验条件：
失效标准：
如果超出参数限制，或在采购文件中规定的额定和坏情况下无法实现功能，则设备将被视为高温贮储故障。对于非易失性存储器，应在存储前后验证规定的数据保留模式。裕度测试可用于检测数据保留退化。
机械损伤，如塑封破裂、碎裂或破裂（如JESD22-B101中所定义）将被视为故障，前提是此类损伤不是由固定装置或搬运引起的，并且对特定应用中的塑封性能至关重要。
外观包装缺陷、铅表面处理退化或可焊性不被视为该应力的有效失效标准。
测试原理：
高温存储测试的原理是模拟芯片在长时间存储期间可能面临的高温环境，以评估芯片在这种条件下的性能和可靠性。这种测试有助于发现潜在的可靠性问题，预测芯片在实际使用中可能遇到的问题，并采取必要的措施来改善芯片设计、材料选择或封装技术。
如有JESD22-A103高温储存试验箱的选型疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
