IC晶片高低交变湿热试验箱

环仪仪器新一代IC晶片高低交变湿热试验箱 ，集人性化设计理念于一身，从客户的实际需求出发，在每一细节上尽力满足客户要求，为客户提供高品质的恒温恒湿系列产品。

产品简介：

IC晶片高低交变湿热试验箱是一种专门用于对集成电路（IC）晶片进行高低温和湿热环境测试的设备。它能够模拟高温、低温和湿热环境下的应力，评估IC晶片的性能和可靠性。

满足标准：

GB/T 4937.42-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第42部分：温湿度贮存

IEC 60749-42:2014

技术参数：

温度范围： B：-20℃~100℃（150℃）、C：-40℃~100℃（150℃）、D：-70℃~100℃（150℃）

湿度范围： 20% RH~98% RH

控制稳定度： 温度±0.5℃、湿度±2.0%

分布均匀度： 温度±2.0℃、湿度±3.0%

升温速率： 3℃/min(由-40℃升至30℃约25分钟)非线性空载

降温速率： 1℃/min(由30℃降至-40℃约70分钟)非线性空载

温度极限： 最高温度 150℃，最低温度-70℃

产品特点：

人性化设计
全新无氟设计，使你始终走在健康生活的前面。
多段可编程PID控制器，采用TMHM平衡式调温调湿方法，控温控湿精确波动小。
采用进口304镜面不锈钢内胆，四角半圆弧过渡，搁板支架可以自由装卸，便于箱内的清洗工作。

环仪仪器IC晶片高低交变湿热试验箱使用的材料在高湿条件下不能发生退化。试验箱在设计时，采用特色设计，可以有效避免凝结于箱体顶部的水汽滴落到器件上。