JESD22标准半导体元件恒温恒湿实验箱

JEDEC曾经是电子工业联盟，1999年，JEDEC独立成为行业协会，抛弃了原来名称中缩写的含义，目前的名称为JEDEC固态技术协会。固态技术协会发布的相关标准为JESD22测试标准。

JESD22标准半导体元件恒温恒湿实验箱，可用于JESD22-A100标准的循环温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试、JESD22-A101标准的稳态温度-湿度偏差寿命测试。

测试要求：

1. 试验设备：环仪仪器 标准半导体元件恒温恒湿实验箱

2. JESD22-A100D 温度-湿度-偏差与表面凝结寿命测试：
测试时间:1008（-24，+168）小时；
测试温度：30~65℃，但仅在65℃驻留；
测试湿度：90%~98%RH；
温度变化速率：8.75℃/h~17.5℃/h;

测试步骤及一些注意点：
1）测试后的检查不应晚于48小时后，还有96小时内要恢复。
2）若是测试后设备不是放在试验箱恢复，而是放在一个没有干燥剂的密封袋内，考虑到1/3的烘干（吸湿）速率，则上面的时间分别延长为144和288小时；
3）当温度从65到30再到65的过程中，相对湿度可能掉到80%，温度箱应有减压功能；
4）测试过程中含有离子污染物的治具需要受到管控；
5）去离子水的阻抗要求最小阻抗＞1MΩ•cm；
6) 如果周期性上电测试，需要指定周期频率和占空比（duty cycle）；

3. JESD22-A101 稳态温度-湿度偏差寿命测试
测试时间:1000（-24，+168）小时；应用此标准并非一定要测这么长时间，如果不是此测试时间则指定下测试时间即可；
测试温度：85℃, 容差± 2度，温箱干球温度；
测试湿度：85%RH，容差± 5%；

注意点：
1）升温升湿（Ramp-up)要在3小时内完成,同时要避免冷凌水，通常的做法是先升温，再升湿。
2）降温降湿（Ramp-down)要在3小时内完成，同时避免冷凌水，这里有写在ramp-down过程中始终保持干球温度高于湿球温度，通常我们做法是先降湿，再降温。