光电模块是一个整体集合，其中包含许多电子元器件，其中以LED最为重要，是光电模块工作的核心器件。光电模块在高温下进行加速寿命试验必须确定一系列的参数，包括(但不限于)：试验持续时间、样本数量、试验目的、要求的置信度、需求的精度、费用、加速因子、外场H环境H、试验环境、加速因子计算、威布尔分布斜率或β参数(β＜1表示早期故障，β＞1表示耗损故障)。
下面，我们来看看光电模块的高温存储寿命试验。
光电模块高温存储寿命性能测试：
试验设备：环仪仪器 高温储存寿命实验箱
确定加速因子：
1、现有模型，现有模型有：Arrhenius模型、Coffin2Manson模型和Norris2Lanzberg模型等，使用现有模型比用试验方法来确定加速因子节省时间，并且所需样本少，但不是很精确，且模型变量的赋值较复杂；
2、通过试验确定的模型(需要大量试验样本和时间)，若没有合适的加速模型，就需要通过试验导出加速因子，先将样本分成3个应力级别：高应力、中应力、低应力，定试验计划确保在每一个应力级别上产生相同的失效机理，这是确定加速因子较精确的方法，但需要较长的时间和较多样本。
测试过程：
1.采用总线多路复用器接收内部测试板的输出信号，总线多路复用器是一种综合系统，通常包含一定数目的数据输入，n个地址输入，以二进制形式选择一种数据输入，总线多路复用器有一个单独的输出，与选择的数据输入值相同，用于中等密度的自动化测试系统。
2.在自动测试系统中配合台式数字万用表、信号发生器等各种测试仪器，实现在计算机控制系统中的自动化测试，扩展仪器测试通道，DSP接收到内部测试板输出的发送光功率、接收光功率、温度、SFP工作温度、SFP工作电流这五个信号，并对这五个信号进行处理，由串口转换器输出。
3.直接对整个光电模块进行加温实验，采集光电模块的5个关键参数在温度变化下的采样数据，对采样数据利用阿伦尼斯模型进行计算，从而评估光电模块在正常情况下的寿命；避免了以LED的寿命来作为光电模块寿命的不准确性，且不需要剥离出LED即可进行测试，方便实验的成规模应用；
以上就是光电模块高温存储寿命性能测试讲解，如对试验有疑问，可以咨询环仪仪器相关技术人员。
